歡迎來到杭州雷邁科技有限公司網站！
咨詢電話：13336187598歡迎來到杭州雷邁科技有限公司網站！咨詢電話：13336187598
產品分類
Product Category相關文章
Related Articles詳細介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產品種類 | 非接觸式輪廓儀/粗糙度儀 | 產地類別 | 進口 |
| 應用領域 | 能源,電子,汽車,電氣 |
NanoSystem成立于2003年，為半導體、顯示器和其他精密機械行業提供了用非接觸式表面測量方法進行測量的解決方案。 NanoSystem已經建立了非接觸式2D、3D測量和檢測系統的核心技術，并成為該市場解決方案的Leader。
高精度(Z軸分辨率達0.1nm)的非接觸式表面輪廓儀，采用白光掃描干涉技術，使客戶有能力看到、理解和糾正或保持產品質量。
NanoSystem NV-3200非接觸式3D光學輪廓儀為LCD、IC Package、Substrate、Build-up PCB、MEMS，Engineering Surfaces等領域提供納米級別精度的測量.
包括：非接觸3D形貌測量，更廣的測量范圍（5mm可選），自動聚焦功能（可選），拼接和線路縱斷面等功能。
NanoSystem NV-3200非接觸式3D光學輪廓儀技術參數
干涉物鏡：5物鏡可選(程控）
掃描范圍：0-180um（270um，5mm可選）
垂直分辨率：WSI：﹤0.5nm ，PSI ：﹤0.1nm
橫向分辨率：0.2-4um（取決于物鏡和FOV）
傾斜度：±6°
工作平臺：NV-P2020 200X200mm（程控）
NV-P4050 400X500mm（程控）
產品咨詢
微信掃一掃
聯系人：蔣新浩
地址：杭州市蕭山區通惠中路1號綠都泰富廣場1幢2512室
郵箱：info@Labmates.cn
傳真：